2019年10月17日，2019年全国电子显微学学术年会进入第二天。今天将由浙江大学张泽教授、中国学院大学徐涛研究员和上海大学张统一教授等多位国内外电子显微学领军人物为与会者带来精彩学术报告。分析测试百科网与中国电子显微镜学会共同为您带来精彩报导。

首先由中国科学院院士、浙江大学张泽教授带来大会报告，题目是“使役条件下材料性能与显微结构关系”。在多耦合场的使役条件下，了解材料力学性能与微观结构变化，对制造诸如航空发动机涡轮叶片等品来说至关重要。团队使用全球首创的SEM/TEM原位高温力学测试台实现了在高温条件下，观察并探索作用力对材料微观结构的影响，同时也开创了在1200℃条件下成功观察样品微观形貌的先河。

由中国科学院院士、中国科学院生物物理研究所徐涛研究员带来大会报告，题目是“超分辨光镜-电镜关联成像技术”。光镜与电镜可以通过联用方式（CL-EM），实现夸尺度的观察。凭借这项技术，团队成功解析了四聚体mEos2的晶体结构；配合低温冷冻技术，团队在超分辨条件下观察到了细胞内部和神经元突触活动过程，为后续深入研究打下技术基础。

由Thermo Fisher Scientific Dr.Marc Peeters带来大会报告，题目是“Thermo Fisher Scientific Electron Microscopes-Update on Our Journey of Innovation”。Thermo Fisher是全球最大的分析仪器生产商之一。在中国，Thermo Fisher的电镜安装台数超过2000台，并且实现了本地化服务。未来，Thermo Fisher将采用全新的信号倍增器来降低信噪比，对TEM产品进一步优化。

由中国科学院院士、上海大学张统一教授带来大会报告，题目是“材料信息学和尺度有关的热力学”。材料信息学是基于数据科学、互联网技术、计算机工程与科学而产生的一门新兴学科，利用好这一学科可以加速材料领域的发展和创新。张统一以Pd-H材料为例，向大家介绍了如何将传统材料学与材料信息学相结合。

由百创实（北京）科技有限公司荆亦仁带来大会报告，题目是“原子分辨率下的力热电-原位试验挑战的解决方案”。荆亦仁为中国电镜人介绍了拥有自主知识产权的力、热、电一体化原位解决方案——INSTEMS。这套系统的优势在于高度集成多场实验系统，可以实现多场耦合下的原子尺度分辨率，并且拥有高傲精度多通道控制与测量系统。因此这套系统适用范围广，扩展性强。

由清华大学王宏伟教授带来大会报告，题目是“单颗粒冷冻电镜解析生物大分子结构的方法学探索”。为了准确辨别包埋在冰晶中的小分子蛋白质颗粒，团队组利用Volta相位板与球差矫正技术，成功的提高了Cryo-TEM照片的衬度，降低了本底噪音，提升了照片的清晰度，同时将鉴定蛋白最小分子量下探至52k Da。为了鉴定易发生形变的蛋白质分子结构，团队利用石墨烯研制了新型支撑薄膜，使蛋白质分子远离了气液相界面，最终实现2.8 ?的分辨率，提高了分析的准确性。

由加州大学欧文分校潘晓晴教授带来大会报告，题目是“Real Space Charge Density with Sub -? Resolution by 4D STEM”。材料中分子的电荷密度分布决定了材料的多种性能。团队通过4D STEM技术，配合0.6 ?大小的电子探针，绘制了铁电材料（BiFeO3）/绝缘体材料（SrTiO3）异质结的界面电荷分布以及铁电材料原子间的局部电荷密度，解决了测量非均匀材料电荷密度的难题。

在下午的低温电子显微学表征分论坛中，由中国科学院生物化学与细胞生物学研究所何勇宁研究员带来精彩报告，题目是“细胞粘附原位结构的电子显微学表征”。细胞膜上受体的工作机制一直是人们研究的重点内容之一，通过IgSF细胞的粘附分子，课题组利用高压冷冻替代技术和光电联用系统观察到了细胞间的界面图像以及细胞间粘附分子的排列图像。这一发现为后续的机理研究工作打下基础。

由清华大学李赛研究员带来分论坛报告，题目是“亚纳米级高分辨率冷冻电镜断层成像技术及其在原位结构生物学中的应用”。Cryo-ET系统可以获得样品的三维图像，是一个观察生物结构很好的工具。基于Cryo-ET系统，李赛团队获得了易变形病毒的高分辨图像，同时解析了病毒的组装结构和机制。基于这项研究，李赛为大家介绍了可以获得高分辨数据的种类及快速获得高分辨数据的采集方法。

由兰州大学雷东升教授带来分论坛报告，题目是“DNA折纸柔性三维机构的冷冻电子断层扫描解析”。DNA折纸工艺常用于制作生物纳米开关和药物载体，常见的柔性DNA折纸结构由班尼特连杆和滑杆结构构成。团队利用ET法获得班尼特连杆的三维图像后发现，这种结构拥有近130种形态。通过将这些结构进行整合，向世人展示了DNA折纸结构的动态信息。

由清华大学李晓敏博士带来分论坛报告，题目是“聚焦离子束技术在生物样品的三维重构和原位加工减薄的应用”。影响FIB三维重构与加工减薄效果的情况通常有两种，一个是常温情况，一个是低温冷冻情况。在常温情况下，影响因素包括加工位置是否能定位精确、加工时的窗帘效应以及电镜成像质量等。对于只适用于≤500 nm样品加工的Cryo-FIB来说，主要影响因素是系统定位与样品冰晶污染。

由JEOL捷欧路（北京）科贸有限公司袁建忠带来分论坛报告，题目是“日本电子冷冻电镜介绍”。日本电子现在拥有120kV， 200 kV和300kV三种规格Cryo-TEM。为了降低Cryo-EM进样过程的难度和增加样品分析时间，日本电子推出了自动样品杆。Cryo-TEM的三大法宝：冷场枪、欧米茄能量过滤和相位板为提高产品竞争力做出了重要贡献。（来源：分析测试百科网）